Riassunto della Conferenza Internazionale organizzata (sessioni tecniche, eventi speciali e tematiche trattate) e benvenuto dai Chair
Welcome Message from the General Chairs and Technical Program Chairs / Coyle, D.; Arpaia, P.; Cristaldi, L.; De Paolis, L. T.; Sacco, M.; Esposito, Antonio.; Barcellona, S.; De Benedetto, E.; Dragoni, A. F.; Mccreadie, K.. - (2023). ( 2nd Edition IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering, MetroXRAINE 2023 Italia (Milano) 2023).
Welcome Message from the General Chairs and Technical Program Chairs
Arpaia P.;Cristaldi L.;De Paolis L. T.;Esposito Antonio.;De Benedetto E.;
2023
Abstract
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