Electrothermal phenomena in bipolar transistors and ICs: analysis, modeling, and simulation / Rinaldi, Niccolo'; D'Alessandro, Vincenzo; Francesco M., De Paola. - (2006), pp. 33-40. (Intervento presentato al convegno IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) tenutosi a Maastricht, The Netherlands nel Oct. 2006) [10.1109/BIPOL.2006.311153].
Electrothermal phenomena in bipolar transistors and ICs: analysis, modeling, and simulation
RINALDI, NICCOLO';d'ALESSANDRO, VINCENZO;
2006
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.