Evaluating the self-heating thermal resistance of bipolar transistors by DC measurements: A critical review and update / Russo, Salvatore; D'Alessandro, Vincenzo; Luigi La Spina, ; Rinaldi, Niccolo'; Nanver, Lis K.. - (2009), pp. 95-98. (Intervento presentato al convegno IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM) tenutosi a Capri, Italy nel Oct. 2009) [10.1109/BIPOL.2009.5314135].
Evaluating the self-heating thermal resistance of bipolar transistors by DC measurements: A critical review and update
Salvatore Russo;d'ALESSANDRO, VINCENZO;RINALDI, NICCOLO';
2009
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