Impact of scaling on the DC/RF thermal behavior of Terahertz SiGe HBTs / Sasso, G., D'Alessandro, V., Costagliola, M., Russo, S., Jungemann, C., Rinaldi, N.. - STAMPA. - (2011), pp. 33-38. (9th International Seminar on MICROtechnology and THERMal problems in electronics (MICROTHERM) Lodz, Poland Jun./Jul. 2011).
Impact of scaling on the DC/RF thermal behavior of Terahertz SiGe HBTs
SASSO, GRAZIA;d'ALESSANDRO, VINCENZO;Salvatore Russo;RINALDI, NICCOLO'
2011
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