Novel 3D electro-thermal robustness optimization approach of super junction power MOSFETs under unclamped inductive switching / J., Rhayem; A., Wieers; A., Vrbicky; P., Moens; A., Villamor Baliarda; J., Roig; P., Vanmeerbeek; Irace, Andrea; Riccio, Michele; M., Tack. - STAMPA. - (2012), pp. 69-73. (Intervento presentato al convegno 2012 28th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM) tenutosi a San Jose nel 18-22 March 2012) [10.1109/STHERM.2012.6188828].

Novel 3D electro-thermal robustness optimization approach of super junction power MOSFETs under unclamped inductive switching

IRACE, ANDREA;RICCIO, MICHELE;
2012

2012
9781467311090
9781467311106
9781467311113
Novel 3D electro-thermal robustness optimization approach of super junction power MOSFETs under unclamped inductive switching / J., Rhayem; A., Wieers; A., Vrbicky; P., Moens; A., Villamor Baliarda; J., Roig; P., Vanmeerbeek; Irace, Andrea; Riccio, Michele; M., Tack. - STAMPA. - (2012), pp. 69-73. (Intervento presentato al convegno 2012 28th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM) tenutosi a San Jose nel 18-22 March 2012) [10.1109/STHERM.2012.6188828].
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