Avalanche multiplication and pinch-in models for simulating electrical instability effects in SiGe HBTs / G., Sasso; M., Costagliola; Rinaldi, Niccolo'. - STAMPA. - (2010), pp. 1577-1580. (Intervento presentato al convegno 21st European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) tenutosi a Montecassino Abbey e Gaeta, Italy nel 11-15 Ottobre 2010).
Avalanche multiplication and pinch-in models for simulating electrical instability effects in SiGe HBTs
RINALDI, NICCOLO'
2010
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