Charged Kaons and V-us at KLOE

Meola S.;AMBROSINO, FABIO;Antonelli A.;Antonelli M.;Archilli F.;Bacci C.;Beltrame P.;Bencivenni G.;Bertolucci S.;Bini C.;Bloise C.;Bocchetta S.;Bossi F.;Branchini P.;Caloi R.;Campana P.;Capon G.;Capussela T.;Ceradini F.;Chi S.;Chiefari G.;Ciambrone P.;De Lucia E.;De Santis A.;De Simone P.;De Zorzi G.;Denig A.;Di Domenico A.;Di Donato C.;Di Falco S.;Di Micco B.;Doria A.;Dreucci M.;Felici G.;Ferrari A.;Ferrer M.;L.;Finocchiaro G.;Fiore S.;Forti C.;Franzini P.;Gatti C.;Gauzzi P.;Giovannella S.;Gorini E.;Graziani E.;Incagli M.;Kluge W.;Kulikov V.;Lacava F.;Lanfranchi G.;Lee Franzini J.;Leone D.;Martini M.;MASSAROTTI, PAOLO;Mei W.;Meola S.;Miscetti S.;Moulson A.;Mueller S.;Murtas F.;NAPOLITANO, MARCO;Nguyen F.;Palutan M.;Pasqualucci E.;Passeri A.;Patera V.;PERFETTO, FRANCESCO;Primavera M.;Santangelo P.;SARACINO, GIULIO;Sciascia B.;Sciubba A.;Scuri F.;Sfiligoi I.;Spadaro T.;Testa M.;Tortora L.;Valente P.;Venanzoni G.;Versaci R.;Xu G.

2008