Validation of thermometer-based techniques to experimentally extract the impact of nonlinear thermal effects on the thermal resistance of bipolar transistors / Scognamillo, Ciro; Catalano, ANTONIO PIO; Müller, Markus; Schröter, Michael; D’Alessandro, Vincenzo. - 1113:(2024), pp. 78-90. [10.1007/978-3-031-48711-8_10]

Validation of thermometer-based techniques to experimentally extract the impact of nonlinear thermal effects on the thermal resistance of bipolar transistors

Ciro Scognamillo;Antonio Pio Catalano;Vincenzo d’Alessandro
2024

2024
978-3-031-48710-1
Validation of thermometer-based techniques to experimentally extract the impact of nonlinear thermal effects on the thermal resistance of bipolar transistors / Scognamillo, Ciro; Catalano, ANTONIO PIO; Müller, Markus; Schröter, Michael; D’Alessandro, Vincenzo. - 1113:(2024), pp. 78-90. [10.1007/978-3-031-48711-8_10]
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