Interferometric measurement of electron-hole pair recombination lifetime as a function of the injection level / Breglio, Giovanni; A., Cutolo; P., Spirito; L., Zeni. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - EDL-14:(1993), pp. 487-489.
Interferometric measurement of electron-hole pair recombination lifetime as a function of the injection level
BREGLIO, GIOVANNI;
1993
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