Thermal Mapping and 3D Numerical Simulation of New Cellular Power MOS Affected by Electro-Thermal Instability / Breglio, Giovanni; Rinaldi, N.; Spirito, P.. - In: MICROELECTRONICS JOURNAL. - ISSN 0959-8324. - 31/9:(2000), pp. 741-746.
Thermal Mapping and 3D Numerical Simulation of New Cellular Power MOS Affected by Electro-Thermal Instability
BREGLIO, GIOVANNI;
2000
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