Experimental detection of time dependent temperature maps in power bipolar transistors / Breglio, Giovanni; P., Spirito. - In: MICROELECTRONICS JOURNAL. - ISSN 0959-8324. - 31/9-10:(2000), pp. 6-6.
Experimental detection of time dependent temperature maps in power bipolar transistors
BREGLIO, GIOVANNI;
2000
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.