Z-scan measurements of the non linear refractive index of porous silicon at different wavelengths / Lettieri, S; Maddalena, Pasqualino; Odierna, Lp; LA FERRARA, V; Ninno, Domenico; DI FRANCIA, G.. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STRUCTURAL, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 0958-6644. - STAMPA. - 81:(2001), pp. 133-133.
Z-scan measurements of the non linear refractive index of porous silicon at different wavelengths
LETTIERI S;MADDALENA, PASQUALINO;NINNO, DOMENICO;
2001
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.