No.4
Thin thickness measurements by means of a wavelet transform based method / Angrisani, Leopoldo; Daponte, P.. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 20:(1997), pp. 227-242.
Thin thickness measurements by means of a wavelet transform based method
ANGRISANI, LEOPOLDO;
1997
Abstract
No.4File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
