Characterization of thin back-to-back CdTe detectors / Auricchio, N.; Caroli, E.; Donati, A.; Dusi, W.; Fougers, P.; Grassi, D.; Perillo, Eugenio; Siffert, P.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 48:(2001), pp. 1028-1032.
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