Thermal mapping and 3D numerical simulation of new cellular power MOS affected by electro-thermal instability / Breglio, Giovanni; Rinaldi, Niccolo'; Spirito, P.. - In: MICROELECTRONICS JOURNAL. - ISSN 0959-8324. - 31:(2000), pp. 741-746.
Thermal mapping and 3D numerical simulation of new cellular power MOS affected by electro-thermal instability
BREGLIO, GIOVANNI;RINALDI, NICCOLO';
2000
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