Transverse probe optical lifetime measurement as a tool for in-line characterization of the fabrication process of a silicon solar cell / Irace, Andrea; L., Sirleto; Vitale, GIOVANNI FRANCESCO; A., Cutolo; L., Zeni; J., Horzel; J., Szlufcik. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 43:(1999), pp. 2235-2242.
Transverse probe optical lifetime measurement as a tool for in-line characterization of the fabrication process of a silicon solar cell
IRACE, ANDREA;VITALE, GIOVANNI FRANCESCO;
1999
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