Recombination lifetime degradation in thermally stressed N-type bulk silicon wafer / Cutolo, A.; Daliento, Santolo; Irace, Andrea; Spirito, P.; Zeni, L.. - STAMPA. - (1997), pp. 105-109. (Intervento presentato al convegno EPE'97 tenutosi a Trondheim (Norway), nel 8-10 September 1997).
Recombination lifetime degradation in thermally stressed N-type bulk silicon wafer
DALIENTO, SANTOLO;IRACE, ANDREA;
1997
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