IRIS

DALIENTO, SANTOLO

DALIENTO, SANTOLO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

Mostra records
Risultati 1 - 20 di 174 (tempo di esecuzione: 0.05 secondi).
Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
Modelling of the input I-V curves of bipolar JFET structures showing a negative resistance behaviour 1.1 Articolo in rivista 2001 S., Bellone; Daliento, Santolo; A., Sanseverino
Experimental measurement of in-depth secondary defect distribution prodced by Helium implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2006 Daliento, Santolo; Mele, L.; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA; Romano, Mario
Electrical measurement of the lattice damage induced by a-particle implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2005 L., Bellemo; R., Carta; Daliento, Santolo; L., Gialanella; B. N., Limata; L., Mele; Romano, Mario; A., Sanseverino; Spirito, Paolo
An electrical technique for the measurement of the interface recombination velocity based on a three terminal test structu 1.1 Articolo in rivista 2003 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P., Spirito; F., Roca
Circuito per il bypass attivo di sotto-pannelli fotovoltaici basato su un transistore bipolare operante in saturazione 6.1 Brevetto 2012 D'Alessandro, Vincenzo; Daliento, Santolo; Matteo, Gargiulo; Guerriero, Pierluigi
A METHOD FOR IN-SITU CHARACTERIZATION OF SEMICONDUCTOR INTERFACE DURING A-SI SOLAR CELL FABRICATION 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; N., Martucciello; F., Roca
Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements 1.1 Articolo in rivista 1995 Daliento, Santolo; N., Rinaldi; A., Sanseverino; P., Spirito
Sol-Gel Preparation of Nanostructured Aluminum doped ZnO (AZO) Thin Films for Photovoltaic Applications 4.1 Articoli in Atti di convegno 2011 Tari, Orlando; Fanelli, Esther; M. L., Addonizio; Aronne, Antonio; Daliento, Santolo; Pernice, Pasquale
Recombination Lifetime Measurements in Silicon 1.1 Articolo in rivista 1994 P., Spirito; Daliento, Santolo; A., Sanseverino
Numerical analysis of the series resistance in concentration sola cells 4.1 Articoli in Atti di convegno 2009 Daliento, Santolo; Guerriero, Pierluigi; L., Lancellotti; R., Fucci
Analytical modelling and minority current measurements for the determination of the emitter surface recombination velocity in silicon solar cells 1.1 Articolo in rivista 2007 Daliento, Santolo; Mele, L; Bobeico, E; Lancellotti, L; Morvillo, P.
Induced degradation on c-Si solar cells for concentration terrestrial applications 1.1 Articolo in rivista 2010 L., Lancellotti; R., Fucci; A., Romano; A., Sarno; Daliento, Santolo
Experimental study on power consumption in lifetime engineered power diodes 1.1 Articolo in rivista 2009 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; R., Carta; L., Merlin
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE SURFACE RECOMBINATION VELOCITY 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; G., Contento; N., Martucciello; I., Nasti; F., Roca
Lifetime and resistivity modifications induced by helium implantation in silicon: experimental analysis with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2008 Daliento, Santolo; Mele, L; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA
Parametric Description on the Effect on Electron Irradiation on Recombination Lifetime in Silicon Layer: An Experimental Approach 1.1 Articolo in rivista 1999 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; P., Spirito; L., Zeni
A Measurement Method of the Ideal I-V Characteristic of Diodes Up to the Built-in Voltage Limit 1.1 Articolo in rivista 1999 S., Bellone; Daliento, Santolo; A., Sanseverino
Experimental measurements of recombination lifetime in proton irradiated power devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2000 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo; G., Busatto; J., Wyss
Helium implantation in silicon: detailed experimental analysis of resistivity and lifetime profiles as a function of the implantation dose and energy 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
An experimental analysis of localized lifetime and resistivity control by helium implant in Si 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; B. N., Limata; R., Carta; L., Bellemo