Characterization of a Point-Wise Close Electric Field Sampling System exploiting the Electro-Optic Effect / Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo. - STAMPA. - Sensors and Microsystems:(2006), pp. 157-161. (Intervento presentato al convegno AISEM 2006 tenutosi a Lecce (Italy) nel February 8-10).
Characterization of a Point-Wise Close Electric Field Sampling System exploiting the Electro-Optic Effect
ROSSI, LUCIO;BREGLIO, GIOVANNI;IRACE, ANDREA;SPIRITO, PAOLO
2006
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