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SPIRITO, PAOLO

SPIRITO, PAOLO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
Electrical measurement of the lattice damage induced by a-particle implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2005 L., Bellemo; R., Carta; Daliento, Santolo; L., Gialanella; B. N., Limata; L., Mele; Romano, Mario; A., Sanseverino; Spirito, Paolo
Helium implantation in silicon: detailed experimental analysis of resistivity and lifetime profiles as a function of the implantation dose and energy 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
Modeling and design of power PiN rectifier 8.10 Tesi di Dottorato 1999 Spirito, Paolo
An experimental analysis of localized lifetime and resistivity control by helium implant in Si 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; B. N., Limata; R., Carta; L., Bellemo
Numerical Analysis of Local Lifetime control for High-speed low-loss PiN diode design 1.1 Articolo in rivista 1999 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo
Design of IGBT with Integral Freewheeling Diode 1.1 Articolo in rivista 2002 Napoli, Ettore; Spirito, Paolo; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; F., Frisina; L., Fragapane; D., Fagone
Thermal transient mapping systems for integrated semiconductor devices and circuits 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Design criteria for PiN diode using multiple He ion implantation for local lifetime control 4.1 Articoli in Atti di convegno 1999 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo
Experimental measurements of recombination lifetime in proton irradiated power devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2000 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo; G., Busatto; J., Wyss
A new test structure for lifetime profiling in very thick lightly doped silicon material 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo
Experimental measurement of in-depth secondary defect distribution prodced by Helium implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2006 Daliento, Santolo; Mele, L.; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA; Romano, Mario
Effect of a buffer layer in the epi-substrate region to boost the avalanche capability of a 100V Schottky diode 1.1 Articolo in rivista 2006 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; A., Bricconi; D., Raffo; L., Merlin
TherMos3: a 3D electrothermal simulator for smart Power Devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
1300 V, 2 ms pulse inductive load switching test circuit with 20 ns selectable crowbar intervention 1.1 Articolo in rivista 2009 Rossi, Lucio; Riccio, Michele; Napoli, Ettore; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo
Experimental study on power consumption in lifetime engineered power diodes 1.1 Articolo in rivista 2009 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; R., Carta; L., Merlin
Development of an Electro-Optic step-by-step Sampling System for ICs Close Electro-Magnetic Field Measurement 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
Educational issues for power semiconductor devices (invited paper) 1.1 Articolo in rivista 1996 Spirito, Paolo
Power semiconductor devices - continuous development 1.1 Articolo in rivista 1996 N., Stojadinovic; Spirito, Paolo
The bipolar mode field effect transistor (BMFET) as an optically controlled switch: numerical and experimental results 1.1 Articolo in rivista 1996 Breglio, Giovanni; R., Casavola; A., Cutolo; Spirito, Paolo
Thermal instability in power BJT: a radiometric detection of transient temperature maps and electro-thermal simulation 1.1 Articolo in rivista 1996 G., Pica; Scarpetta, Giovanni; Spirito, Paolo