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SPIRITO, PAOLO

SPIRITO, PAOLO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Tipologia Data di pubblicazione Autore(i) File
The bipolar mode field effect transistor (BMFET) as an optically controlled switch: numerical and experimental results 1.1 Articolo in rivista 1996 Breglio, Giovanni; R., Casavola; A., Cutolo; Spirito, Paolo
Experimental measurements of recombination lifetime in proton irradiated power devices 4.1 Articoli in Atti di convegno 2000 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo; G., Busatto; J., Wyss
Helium implantation in silicon: detailed experimental analysis of resistivity and lifetime profiles as a function of the implantation dose and energy 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
An experimental analysis of localized lifetime and resistivity control by helium implant in Si 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Daliento, Santolo; L., Mele; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; B. N., Limata; R., Carta; L., Bellemo
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE INTERFACE RECOMBINATION VELOCITY BASED ON A THREE-TERMINAL TEST STRUCTURE 1.1 Articolo in rivista 2003 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; F., Roca
A METHOD FOR IN-SITU CHARACTERIZATION OF SEMICONDUCTOR INTERFACE DURING A-SI SOLAR CELL FABRICATION 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; N., Martucciello; F., Roca
Lifetime and resistivity modifications induced by helium implantation in silicon: experimental analysis with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2008 Daliento, Santolo; Mele, L; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA
AN ELECTRICAL TECHNIQUE FOR THE MEASUREMENT OF THE SURFACE RECOMBINATION VELOCITY 2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio) 2002 Daliento, Santolo; Spirito, Paolo; Sanseverino, Annunziata; G., Contento; N., Martucciello; I., Nasti; F., Roca
A VLSI architecture for real time processing of one-bit coded SAR signals 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Franceschetti, Giorgio; M., Tesauro; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Napoli, Ettore; C., Cimino; Spirito, Paolo; Mazzeo, Antonino; Mazzocca, Nicola
ON THE SAFE OPERATING AREA OF POWER SCHOTTKY DIODES IN AVALANCHE CONDITIONS 4.1 Articoli in Atti di convegno 2005 Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; A., Bricconi; D., Raffo; L., Merlin
Development of an Electro-Optic step-by-step Sampling System for ICs Close Electro-Magnetic Field Measurement 4.1 Articoli in Atti di convegno 2006 Rossi, Lucio; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Spirito, Paolo
A novel time-domain processor for real time SAR operation 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Franceschetti, Giorgio; Mazzeo, Antonino; Mazzocca, Nicola; Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo; M., Tesauro
Electro-thermal instability in multi-cellular Trench-IGBTs in avalanche condition: experiments and simulations 4.1 Articoli in Atti di convegno 2011 Riccio, Michele; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; Napoli, Ettore; Y., Mizuno
Characterization of recombination centers in Si epilayers after He implantation by direct measurement of local lifetime distribution with the ac profiling technique 1.1 Articolo in rivista 2004 Spirito, Paolo; Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Gialanella, Lucio; Romano, Mario; Limata, BENEDICTA NORMANNA; R., Carta; L., Bellemo
Physics of the Negative Resistance in the Avalanche I-V Curve of Field Stop IGBTs: Collector Design Rules for Improved Ruggedness 1.1 Articolo in rivista 2014 Spirito, Paolo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Maresca, Luca; Napoli, Ettore; Riccio, Michele
A new test structure for lifetime profiling in very thick lightly doped silicon material 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Daliento, Santolo; A., Sanseverino; Spirito, Paolo
Electrical measurement of the lattice damage induced by a-particle implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2005 L., Bellemo; R., Carta; Daliento, Santolo; L., Gialanella; B. N., Limata; L., Mele; Romano, Mario; A., Sanseverino; Spirito, Paolo
Experimental measurement of in-depth secondary defect distribution prodced by Helium implantation in silicon 1.1 Articolo in rivista 2006 Daliento, Santolo; Mele, L.; Spirito, Paolo; Gialanella, Lucio; Limata, BENEDICTA NORMANNA; Romano, Mario
Design criteria for PiN diode using multiple He ion implantation for local lifetime control 4.1 Articoli in Atti di convegno 1999 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo
Analysis of local lifetime control and emitter efficiency control for the design of power PiN diodes 4.1 Articoli in Atti di convegno 1998 Napoli, Ettore; Strollo, ANTONIO GIUSEPPE MARIA; Spirito, Paolo