Characterizations of nanostructured silicon-carbon films deposited on p-layer by PECVD / Coscia, Ubaldo; Ambrosone, Giuseppina; D. K., Basa; S., Ferrero; P., Delli Veneri; L. V., Mercaldo; I., Usatii; M., Tucci. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. C. - ISSN 1610-1642. - ELETTRONICO. - 7:(2010), pp. 766-769. [10.1002/pssc.200982675]
Characterizations of nanostructured silicon-carbon films deposited on p-layer by PECVD
COSCIA, UBALDO;AMBROSONE, GIUSEPPINA;
2010
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