Bias stress instability in organic transistors investigated by ac admittance measurements / F. V., Di Girolamo; Barra, Mario; V., Capello; M., Oronzio; C., Romano; Cassinese, Antonio. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 107:(2010), pp. 114508-1-114508-5.
Bias stress instability in organic transistors investigated by ac admittance measurements
BARRA, Mario;CASSINESE, ANTONIO
2010
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