Single-charged particle damage to living cells: a new method to detect traversals based on track-etch detectors / Durante, Marco; Grossi, Gianfranco; Pugliese, Mariagabriella; Manti, Lorenzo; Nappo, M.; Gialanella, G.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. - ISSN 0168-583X. - STAMPA. - 94:(1994), pp. 251-258.
Single-charged particle damage to living cells: a new method to detect traversals based on track-etch detectors.
DURANTE, MARCO;GROSSI, GIANFRANCO;PUGLIESE, MARIAGABRIELLA;MANTI, LORENZO;
1994
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.