Bias stress effects investigated in charge depletion and accumulation regimes for inkjet-printed perylene diimide organic transistors / Grimaldi, I. A.; Barra, Mario; Carella, Antonio; Di, Girolamo; F. V., Loffredo; Minarini, C.; Villani, F.; Cassinese, Antonio. - In: SYNTHETIC METALS. - ISSN 0379-6779. - STAMPA. - 176:(2013), pp. 121-127. [10.1016/j.synthmet.2013.05.030]
Bias stress effects investigated in charge depletion and accumulation regimes for inkjet-printed perylene diimide organic transistors
BARRA, Mario;CARELLA, ANTONIO;CASSINESE, ANTONIO
2013
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
