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Bias stress effects investigated in charge depletion and accumulation regimes for inkjet-printed perylene diimide organic transistors / Grimaldi, I.A., Barra, M., Carella, A., Di, G., F. V., L., Minarini, C., Villani, F., Cassinese, A.. - In: SYNTHETIC METALS. - ISSN 0379-6779. - STAMPA. - 176:(2013), pp. 121-127. [10.1016/j.synthmet.2013.05.030]

Bias stress effects investigated in charge depletion and accumulation regimes for inkjet-printed perylene diimide organic transistors

BARRA, Mario;CARELLA, ANTONIO;CASSINESE, ANTONIO
2013
2013
Bias stress effects investigated in charge depletion and accumulation regimes for inkjet-printed perylene diimide organic transistors / Grimaldi, I.A., Barra, M., Carella, A., Di, G., F. V., L., Minarini, C., Villani, F., Cassinese, A.. - In: SYNTHETIC METALS. - ISSN 0379-6779. - STAMPA. - 176:(2013), pp. 121-127. [10.1016/j.synthmet.2013.05.030]
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