Impact of gate drive voltage on avalanche robustness of trench IGBTs / Riccio, Michele; Maresca, Luca; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Y., Iwahashi. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - (2014). [10.1016/j.microrel.2014.07.028]
Impact of gate drive voltage on avalanche robustness of trench IGBTs
RICCIO, MICHELE;MARESCA, LUCA;IRACE, ANDREA;BREGLIO, GIOVANNI;
2014
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