Refractive index measurement in TCO layers for micro optoelectronic devices / Daliento, Santolo; Guerriero, Pierluigi; M., Addonizio; A., Antonaia; E., Gambale. - (2014), pp. 265-268. (Intervento presentato al convegno IEEE MIcroELectronics Conference tenutosi a Belgrade, Serbia nel May 2014) [10.1109/MIEL.2014.6842138].
Refractive index measurement in TCO layers for micro optoelectronic devices
DALIENTO, SANTOLO;GUERRIERO, PIERLUIGI;
2014
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