Single pulse avalanche robustness and repetitive stress ageing of SiC power MOSFETs / Fayyaz, A., Yang, L., Riccio, M., Castellazzi, A., Irace, A.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 54:9-10(2014), pp. 2185-2190. [10.1016/j.microrel.2014.07.078]
Single pulse avalanche robustness and repetitive stress ageing of SiC power MOSFETs
RICCIO, MICHELE;CASTELLAZZI, ALBERTO;IRACE, ANDREA
2014
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