Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon

Agnes, P.; Albuquerque, I. F. M.; Alexander, T.; Alton, A. K.; Asner, D. M.; Back, H. O.; Baldin, B.; Biery, K.; Bocci, V.; Bonfini, G.; Bonivento, W.; Bossa, Maria; Bottino, B.; Brigatti, A.; Brodsky, J.; Budano, F.; Bussino, S.; Cadeddu, M.; Cadoni, M.; Calaprice, F.; Canci, N.; Candela, A.; Caravati, M.; Cariello, M.; Carlini, M.; Catalanotti, Sergio; Cavalcante, P.; Chepurnov, A.; Cicalo, C.; Cocco, ALFREDO GIUSEPPE; Covone, Giovanni; D'Angelo, D.; D'Incecco, M.; Davini, S.; De Cecco, S.; De Deo, M.; De Vincenzi, M.; Derbin, A.; Devoto, A.; Di Eusanio, F.; Di Pietro, G.; Dionisi, C.; Edkins, E.; Empl, A.; Fan, A.; Fiorillo, Giuliana; Fomenko, K.; Forster, G.; Franco, D.; Gabriele, F.; Galbiati, C.; Giagu, S.; Giganti, C.; Giovanetti, G. K.; Goretti, A. M.; Granato, F.; Gromov, M.; Guan, M.; Guardincerri, Y.; Hackett, B. R.; Herner, K.; Hughes, D.; Humble, P.; Hungerford, E. V.; Ianni, A.; James, I.; Johnson, T. N.; Jollet, C.; Keeter, K.; Kendziora, C. L.; Koh, G.; Korablev, D.; Korga, G.; Kubankin, A.; Li, X.; Lissia, M.; Loer, B.; Lombardi, P.; Longo, Giuseppe; Ma, Y.; Machulin, I. N.; Mandarano, A.; Mari, S. M.; Maricic, J.; Marini, L.; Martoff, C. J.; Meregaglia, A.; Meyers, P. D.; Milincic, R.; Miller, J. D.; Montanari, D.; Monte, A.; Mount, B. J.; Muratova, V. N.; Musico, P.; Napolitano, J.; Agasson, A. Navrer; Odrowski, S.; Oleinik, A.; Orsini, M.; Ortica, F.; Pagani, L.; Pallavicini, M.; Pantic, E.; Parmeggiano, S.; Pelczar, K.; Pelliccia, N.; Pocar, A.; Pordes, S.; Pugachev, D. A.; Qian, H.; Randle, K.; Ranucci, G.; Razeti, M.; Razeto, A.; Reinhold, B.; Renshaw, A. L.; Rescigno, M.; Riffard, Q.; Romani, A.; Rossi, B.; Rossi, N.; Rountree, D.; Sablone, D.; Saggese, P.; Sands, W.; Savarese, C.; Schlitzer, B.; Segreto, E.; Semenov, D. A.; Shields, E.; Singh, P. N.; Skorokhvatov, M. D.; Smirnov, O.; Sotnikov, A.; Stanford, C.; Suvorov, Y.; Tartaglia, R.; Tatarowicz, J.; Testera, G.; Tonazzo, A.; Trinchese, P.; Unzhakov, E. V.; Verducci, M.; Vishneva, A.; Vogelaar, B.; Wada, M.; Walker, Susan Elizabeth; Wang, H.; Wang, Y.; Watson, A. W.; Westerdale, S.; Wilhelmi, J.; Wojcik, M. M.; Xiang, X.; Xiao, X.; Xu, J.; Yang, C.; Zhong, W.; Zhu, C.; Zuzel, G.

doi:10.1088/1748-0221/12/01/P01021

Measurements were made of scintillation light yield of alpha particles from the Rn-222 decay chain within the DarkSide-50 liquid argon time projection chamber. The light yield was found to increase as the applied electric field increased, with alphas in a 200 V/cm electric field exhibiting a similar to 2% increase in light yield compared to alphas in no field.

Effect of low electric fields on alpha scintillation light yield in liquid argon / Agnes, P.; Albuquerque, I. F. M.; Alexander, T.; Alton, A. K.; Asner, D. M.; Back, H. O.; Baldin, B.; Biery, K.; Bocci, V.; Bonfini, G.; Bonivento, W.; Bossa, Maria; Bottino, B.; Brigatti, A.; Brodsky, J.; Budano, F.; Bussino, S.; Cadeddu, M.; Cadoni, M.; Calaprice, F.; Canci, N.; Candela, A.; Caravati, M.; Cariello, M.; Carlini, M.; Catalanotti, Sergio; Cavalcante, P.; Chepurnov, A.; Cicalo, C.; Cocco, ALFREDO GIUSEPPE; Covone, Giovanni; D'Angelo, D.; D'Incecco, M.; Davini, S.; De Cecco, S.; De Deo, M.; De Vincenzi, M.; Derbin, A.; Devoto, A.; Di Eusanio, F.; Di Pietro, G.; Dionisi, C.; Edkins, E.; Empl, A.; Fan, A.; Fiorillo, Giuliana; Fomenko, K.; Forster, G.; Franco, D.; Gabriele, F.; Galbiati, C.; Giagu, S.; Giganti, C.; Giovanetti, G. K.; Goretti, A. M.; Granato, F.; Gromov, M.; Guan, M.; Guardincerri, Y.; Hackett, B. R.; Herner, K.; Hughes, D.; Humble, P.; Hungerford, E. V.; Ianni, A.; James, I.; Johnson, T. N.; Jollet, C.; Keeter, K.; Kendziora, C. L.; Koh, G.; Korablev, D.; Korga, G.; Kubankin, A.; Li, X.; Lissia, M.; Loer, B.; Lombardi, P.; Longo, Giuseppe; Ma, Y.; Machulin, I. N.; Mandarano, A.; Mari, S. M.; Maricic, J.; Marini, L.; Martoff, C. J.; Meregaglia, A.; Meyers, P. D.; Milincic, R.; Miller, J. D.; Montanari, D.; Monte, A.; Mount, B. J.; Muratova, V. N.; Musico, P.; Napolitano, J.; Agasson, A. Navrer; Odrowski, S.; Oleinik, A.; Orsini, M.; Ortica, F.; Pagani, L.; Pallavicini, M.; Pantic, E.; Parmeggiano, S.; Pelczar, K.; Pelliccia, N.; Pocar, A.; Pordes, S.; Pugachev, D. A.; Qian, H.; Randle, K.; Ranucci, G.; Razeti, M.; Razeto, A.; Reinhold, B.; Renshaw, A. L.; Rescigno, M.; Riffard, Q.; Romani, A.; Rossi, B.; Rossi, N.; Rountree, D.; Sablone, D.; Saggese, P.; Sands, W.; Savarese, C.; Schlitzer, B.; Segreto, E.; Semenov, D. A.; Shields, E.; Singh, P. N.; Skorokhvatov, M. D.; Smirnov, O.; Sotnikov, A.; Stanford, C.; Suvorov, Y.; Tartaglia, R.; Tatarowicz, J.; Testera, G.; Tonazzo, A.; Trinchese, P.; Unzhakov, E. V.; Verducci, M.; Vishneva, A.; Vogelaar, B.; Wada, M.; Walker, Susan Elizabeth; Wang, H.; Wang, Y.; Watson, A. W.; Westerdale, S.; Wilhelmi, J.; Wojcik, M. M.; Xiang, X.; Xiao, X.; Xu, J.; Yang, C.; Zhong, W.; Zhu, C.; Zuzel, G.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 12:P01021(2017). [10.1088/1748-0221/12/01/P01021]