Transient out-of-SOA robustness of SiC power MOSFETs / Castellazzi, A., Fayyaz, A., Romano, G., Riccio, M., Irace, A., Urresti ibanez, J., Wright, N.. - (2017), pp. A31-2A38. (2017 International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017 usa 2017) [10.1109/IRPS.2017.7936255].
Transient out-of-SOA robustness of SiC power MOSFETs
CASTELLAZZI, ALBERTO;ROMANO, GIANPAOLO;RICCIO, MICHELE;IRACE, ANDREA;
2017
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