ROMANO, GIANPAOLO
ROMANO, GIANPAOLO
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA ELETTRICA E TECNOLOGIE DELL'INFORMAZIONE
An ultrafast IR thermography system for transient temperature detection on electronic devices2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM)
2014 Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Maresca, Luca; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
ELDO-COMSOL based 3D electro-thermal simulations of power semiconductor devices2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM)
2014 DE FALCO, Giuseppe; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Maresca, Luca; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
Physically based analytical model of the blocking I?V curve of Trench IGBTs
2013 Maresca, Luca; Romano, Gianpaolo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea
SiC power MOSFETs performance, robustness and technology maturity
2016 Castellazzi, Alberto; Fayyaz, A.; Romano, Gianpaolo; Yang, L.; Riccio, Michele; Irace, Andrea
Pyro-electro-thermal analysis of LiNbO3 using microheaters
2015 Bhowmick, S.; Iodice, M.; Gioffrè, M.; Breglio, Giovanni; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Romano, Gianpaolo; Coppola, G.
A comprehensive study of short-circuit ruggedness of silicon carbide power MOSFETs
2016 Romano, Gianpaolo; Fayyaz, A.; Riccio, Michele; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Castellazzi, Alberto; Irace, Andrea
Development of a new short-circuit tester for 1.7kV high current power devices
2014 Maresca, Luca; Cardonia, M.; Avallone, G.; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; DE FALCO, Giuseppe; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
An area-effective termination technique for PT-Trench IGBTs
2014 Mirone, Paolo; Maresca, Luca; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
A robust and automated parameters calibration procedure for PSpice IGBT models
2014 Cavaiuolo, Domenico; Riccio, Michele; Maresca, Luca; DE FALCO, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
An effective parameters calibration technique for PSpice IGBT models application
2014 Cavaiuolo, Domenico; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Daprá, D.; Merlin, L.; Carta, R.; Sanfilippo, C.; Crudelini, F.
Influence of design parameters on the short-circuit ruggedness of SiC power MOSFETs
2016 Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Fayyaz, A.; Castellazzi, Alberto
A comprehensive study of current conduction during breakdown of Floating Field Ring terminations at arbitrary current levels
2015 Mirone, Paolo; Maresca, Luca; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
A comprehensive study on the avalanche breakdown robustness of silicon carbide power MOSFETs
2017 Fayyaz, Asad; Romano, Gianpaolo; Urresti, Jesus; Riccio, Michele; Castellazzi, Alberto; Irace, Andrea; Wright, Nick
Investigation of pyroelectric fields generated by lithium niobate crystals through integrated microheaters
2017 Bhowmick, Shomnath; Iodice, M.; Gioffrã, M.; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Grilli, S.; Ferraro, P.; Mecozzi, Laura; Coppola, S.; Gennari, O.; Rega, R.; Coppola, G.
Transient out-of-SOA robustness of SiC power MOSFETs
2017 Castellazzi, Alberto; Fayyaz, Asad; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Urresti ibanez, Jesus; Wright, Nick
Physics of current limited failures during avalanche for 600V Fast Recovery Diodes
2017 Maresca, Luca; Riccio, Michele; Mirone, Paolo; Romano, Gianpaolo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea
Novel Cathode Design to Improve the ESD Capability of 600 V Fast Recovery Epitaxial Diodes
2018 Maresca, Luca; De Caro, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Bellemo, Laura; Carta and Nabil El Baradai, Rossano
Influence of gate bias on the avalanche ruggedness of SiC power MOSFETs
2017 Fayyaz, A.; Castellazzi, Alberto; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Urresti, J.; Wright, GERALDINE ANN
Effect of heat sources modeling in DC circuit-level electrothermal simulation of power MOSFETs
2017 Catalano, ANTONIO PIO; D'Alessandro, Vincenzo; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Magnani, Alessandro; Codecasa, Lorenzo; Rinaldi, Niccolo'; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni
Analysis of device and circuit parameters variability in SiC MOSFETs-based multichip power module
2018 Riccio, Michele; Borghese, Alessandro; Romano, Gianpaolo; D'Alessandro, Vincenzo; Fayyaz, Asad; Castellazzi, Alberto; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea
Titolo | Tipologia | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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An ultrafast IR thermography system for transient temperature detection on electronic devices2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM) | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2014 | Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Maresca, Luca; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni | |
ELDO-COMSOL based 3D electro-thermal simulations of power semiconductor devices2014 Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM) | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2014 | DE FALCO, Giuseppe; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Maresca, Luca; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni | |
Physically based analytical model of the blocking I?V curve of Trench IGBTs | 1.1 Articolo in rivista | 2013 | Maresca, Luca; Romano, Gianpaolo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea | |
SiC power MOSFETs performance, robustness and technology maturity | 1.1 Articolo in rivista | 2016 | Castellazzi, Alberto; Fayyaz, A.; Romano, Gianpaolo; Yang, L.; Riccio, Michele; Irace, Andrea | |
Pyro-electro-thermal analysis of LiNbO3 using microheaters | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2015 | Bhowmick, S.; Iodice, M.; Gioffrè, M.; Breglio, Giovanni; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Romano, Gianpaolo; Coppola, G. | |
A comprehensive study of short-circuit ruggedness of silicon carbide power MOSFETs | 1.1 Articolo in rivista | 2016 | Romano, Gianpaolo; Fayyaz, A.; Riccio, Michele; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Castellazzi, Alberto; Irace, Andrea | |
Development of a new short-circuit tester for 1.7kV high current power devices | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2014 | Maresca, Luca; Cardonia, M.; Avallone, G.; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; DE FALCO, Giuseppe; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni | |
An area-effective termination technique for PT-Trench IGBTs | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2014 | Mirone, Paolo; Maresca, Luca; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni | |
A robust and automated parameters calibration procedure for PSpice IGBT models | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2014 | Cavaiuolo, Domenico; Riccio, Michele; Maresca, Luca; DE FALCO, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni | |
An effective parameters calibration technique for PSpice IGBT models application | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2014 | Cavaiuolo, Domenico; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Daprá, D.; Merlin, L.; Carta, R.; Sanfilippo, C.; Crudelini, F. | |
Influence of design parameters on the short-circuit ruggedness of SiC power MOSFETs | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2016 | Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Fayyaz, A.; Castellazzi, Alberto | |
A comprehensive study of current conduction during breakdown of Floating Field Ring terminations at arbitrary current levels | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2015 | Mirone, Paolo; Maresca, Luca; Riccio, Michele; DE FALCO, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni | |
A comprehensive study on the avalanche breakdown robustness of silicon carbide power MOSFETs | 1.1 Articolo in rivista | 2017 | Fayyaz, Asad; Romano, Gianpaolo; Urresti, Jesus; Riccio, Michele; Castellazzi, Alberto; Irace, Andrea; Wright, Nick | |
Investigation of pyroelectric fields generated by lithium niobate crystals through integrated microheaters | 1.1 Articolo in rivista | 2017 | Bhowmick, Shomnath; Iodice, M.; Gioffrã, M.; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Riccio, Michele; Romano, Gianpaolo; Grilli, S.; Ferraro, P.; Mecozzi, Laura; Coppola, S.; Gennari, O.; Rega, R.; Coppola, G. | |
Transient out-of-SOA robustness of SiC power MOSFETs | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2017 | Castellazzi, Alberto; Fayyaz, Asad; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Urresti ibanez, Jesus; Wright, Nick | |
Physics of current limited failures during avalanche for 600V Fast Recovery Diodes | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2017 | Maresca, Luca; Riccio, Michele; Mirone, Paolo; Romano, Gianpaolo; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea | |
Novel Cathode Design to Improve the ESD Capability of 600 V Fast Recovery Epitaxial Diodes | 1.1 Articolo in rivista | 2018 | Maresca, Luca; De Caro, Giuseppe; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea; Bellemo, Laura; Carta and Nabil El Baradai, Rossano | |
Influence of gate bias on the avalanche ruggedness of SiC power MOSFETs | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2017 | Fayyaz, A.; Castellazzi, Alberto; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Irace, Andrea; Urresti, J.; Wright, GERALDINE ANN | |
Effect of heat sources modeling in DC circuit-level electrothermal simulation of power MOSFETs | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2017 | Catalano, ANTONIO PIO; D'Alessandro, Vincenzo; Romano, Gianpaolo; Riccio, Michele; Magnani, Alessandro; Codecasa, Lorenzo; Rinaldi, Niccolo'; Irace, Andrea; Breglio, Giovanni | |
Analysis of device and circuit parameters variability in SiC MOSFETs-based multichip power module | 4.1 Articoli in Atti di convegno | 2018 | Riccio, Michele; Borghese, Alessandro; Romano, Gianpaolo; D'Alessandro, Vincenzo; Fayyaz, Asad; Castellazzi, Alberto; Maresca, Luca; Breglio, Giovanni; Irace, Andrea |