Measurement of inclusive double-differential νμ charged-current cross section with improved acceptance in the T2K off-axis near detector

Abe, K.;Amey, J.;Andreopoulos, C.;Anthony, L.;Antonova, M.;Aoki, S.;Ariga, A.;Ashida, Y.;Azuma, Y.;Ban, S.;Barbi, M.;Barker, G. J.;Barr, G.;Barry, C.;Batkiewicz, M.;Berardi, V.;Berkman, S.;Berner, R. M.;Bhadra, S.;Bienstock, S.;Blondel, A.;Bolognesi, S.;Bordoni, S.;Bourguille, B.;Boyd, S. B.;Brailsford, D.;Bravar, A.;Bronner, C.;Buizza Avanzini, M.;Calcutt, J.;Campbell, T.;Cao, S.;Cartwright, S. L.;Catanesi, M. G.;Cervera, A.;Chappell, A.;Checchia, C.;Cherdack, D.;Chikuma, N.;Christodoulou, G.;Coleman, J.;Collazuol, G.;Coplowe, D.;Cudd, A.;Dabrowska, A.;De Rosa, G.;Dealtry, T.;Denner, P. F.;Dennis, S. R.;Densham, C.;Di Lodovico, F.;Dolan, S.;Drapier, O.;Duffy, K. E.;Dumarchez, J.;Dunne, P.;Emery-Schrenk, S.;Ereditato, A.;Feusels, T.;Finch, A. J.;Fiorentini, G. A.;Fiorillo, G.;Francois, C.;Friend, M.;Fujii, Y.;Fukuda, D.;Fukuda, Y.;Garcia, A.;Giganti, C.;Gizzarelli, F.;Golan, T.;Gonin, M.;Hadley, D. R.;Haegel, L.;Haigh, J. T.;Hamacher-Baumann, P.;Hansen, D.;Harada, J.;Hartz, M.;Hasegawa, T.;Hastings, N. C.;Hayashino, T.;Hayato, Y.;Hiraki, T.;Hiramoto, A.;Hirota, S.;Hogan, M.;Holeczek, J.;Hosomi, F.;Ichikawa, A. K.;Ikeda, M.;Imber, J.;Inoue, T.;Intonti, R. A.;Ishida, T.;Ishii, T.;Iwamoto, K.;Izmaylov, A.;Jamieson, B.;Jiang, M.;Johnson, S.;Jonsson, P.;Jung, C. K.;Kabirnezhad, M.;Kaboth, A. C.;Kajita, T.;Kakuno, H.;Kameda, J.;Karlen, D.;Katori, T.;Kearns, E.;Khabibullin, M.;Khotjantsev, A.;Kim, H.;Kim, J.;King, S.;Kisiel, J.;Knight, A.;Knox, A.;Kobayashi, T.;Koch, L.;Koga, T.;Koller, P. P.;Konaka, A.;Kormos, L. L.;Koshio, Y.;Kowalik, K.;Kudenko, Y.;Kurjata, R.;Kutter, T.;Labarga, L.;Lagoda, J.;Lamont, I.;Lamoureux, M.;Lasorak, P.;Laveder, M.;Lawe, M.;Licciardi, M.;Lindner, T.;Liptak, Z. J.;Litchfield, R. P.;Li, X.;Longhin, A.;Lopez, J. P.;Lou, T.;Ludovici, L.;Lu, X.;Magaletti, L.;Mahn, K.;Malek, M.;Manly, S.;Maret, L.;Marino, A. D.;Martin, J. F.;Martins, P.;Martynenko, S.;Maruyama, T.;Matveev, V.;Mavrokoridis, K.;Ma, W. Y.;Mazzucato, E.;McCarthy, M.;McCauley, N.;McFarland, K. S.;McGrew, C.;Mefodiev, A.;Metelko, C.;Mezzetto, M.;Minamino, A.;Mineev, O.;Mine, S.;Missert, A.;Miura, M.;Moriyama, S.;Morrison, J.;Mueller, Th. A.;Nagai, Y.;Nakadaira, T.;Nakahata, M.;Nakamura, K. G.;Nakamura, K.;Nakamura, K. D.;Nakanishi, Y.;Nakayama, S.;Nakaya, T.;Nakayoshi, K.;Nantais, C.;Nielsen, C.;Niewczas, K.;Nishikawa, K.;Nishimura, Y.;Novella, P.;Nowak, J.;O'Keeffe, H. M.;Okumura, K.;Okusawa, T.;Oryszczak, W.;Oser, S. M.;Ovsyannikova, T.;Owen, R. A.;Oyama, Y.;Palladino, V.;Palomino, J. L.;Paolone, V.;Paudyal, P.;Pavin, M.;Payne, D.;Petrov, Y.;Pickering, L.;Pinzon Guerra, E. S.;Pistillo, C.;Popov, B.;Posiadala-Zezula, M.;Pritchard, A.;Przewlocki, P.;Quilain, B.;Radermacher, T.;Radicioni, E.;Ratoff, P. N.;Rayner, M. A.;Reinherz-Aronis, E.;Riccio, C.;Rondio, E.;Rossi, B.;Roth, S.;Ruggeri, A. C.;Rychter, A.;Sakashita, K.;Sánchez, F.;Sasaki, S.;Scantamburlo, E.;Scholberg, K.;Schwehr, J.;Scott, M.;Seiya, Y.;Sekiguchi, T.;Sekiya, H.;Sgalaberna, D.;Shah, R.;Shaikhiev, A.;Shaker, F.;Shaw, D.;Shiozawa, M.;Smirnov, A.;Smy, M.;Sobczyk, J. T.;Sobel, H.;Steinmann, J.;Stewart, T.;Stowell, P.;Suda, Y.;Suvorov, S.;Suzuki, A.;Suzuki, S. Y.;Suzuki, Y.;Tacik, R.;Tada, M.;Takeda, A.;Takeuchi, Y.;Tamura, R.;Tanaka, H. K.;Tanaka, H. A.;Thakore, T.;Thompson, L. F.;Tobayama, S.;Toki, W.;Tsukamoto, T.;Tzanov, M.;Uno, W.;Vagins, M.;Vallari, Z.;Vasseur, G.;Vilela, C.;Vladisavljevic, T.;Wachala, T.;Walker, J.;Walter, C. W.;Wang, Y.;Wark, D.;Wascko, M. O.;Weber, A.;Wendell, R.;Wilking, M. J.;Wilkinson, C.;Wilson, J. R.;Wilson, R. J.;Wret, C.;Yamada, Y.;Yamamoto, K.;Yamasu, S.;Yanagisawa, C.;Yano, T.;Yen, S.;Yershov, N.;Yokoyama, M.;Yu, M.;Zalewska, A.;Zalipska, J.;Zambelli, L.;Zaremba, K.;Ziembicki, M.;Zimmerman, E. D.;Zito, M.;Zykova, A.

2018