Analysis of HMDS self-assembled monolayer Effect on Trap Density in PC70BM n-type Thin Film Transistors through Admittance Studies / Fiorillo, M. R.; Liguori, R.; Diletto, C.; Bezzeccheri, Chiara; Tassini, P.; Maglione, M. G.; Maddalena, P.; Minarini, C.; Rubino, A.. - In: MATERIALS TODAY: PROCEEDINGS. - ISSN 2214-7853. - 4:4(2017), pp. 5053-5059. [10.1016/j.matpr.2017.04.113]
Analysis of HMDS self-assembled monolayer Effect on Trap Density in PC70BM n-type Thin Film Transistors through Admittance Studies
Fiorillo, M. R.;Diletto, C.;BEZZECCHERI, CHIARA;Maddalena, P.;
2017
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