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Multi-port dynamic compact thermal models of dual-chip package using model order reduction and metaheuristic optimization / Rogié, Brice; Codecasa, Lorenzo; Monier-Vinard, Eric; Bissuel, Valentin; Laraqi, Najib; Daniel, Oliver; D’Amore, Dario; Magnani, Alessandro; D’Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 87:(2018), pp. 222-231. [10.1016/j.microrel.2018.06.009]

Multi-port dynamic compact thermal models of dual-chip package using model order reduction and metaheuristic optimization

Lorenzo Codecasa;Alessandro Magnani;Vincenzo d’Alessandro;Niccolo' Rinaldi
2018
2018
Multi-port dynamic compact thermal models of dual-chip package using model order reduction and metaheuristic optimization / Rogié, Brice; Codecasa, Lorenzo; Monier-Vinard, Eric; Bissuel, Valentin; Laraqi, Najib; Daniel, Oliver; D’Amore, Dario; Magnani, Alessandro; D’Alessandro, Vincenzo; Rinaldi, Niccolo'. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 87:(2018), pp. 222-231. [10.1016/j.microrel.2018.06.009]
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