Direct correlation between the electrical properties and the microstructure of a Y1Ba2Cu3O7-x grain boundary Josephson junction / Verbist, K.; Lebedev, O.; VAN TENDELOO, G.; Tafuri, F.; DI CHIARA, A.; MILETTO GRANOZIO, F.; Bender, H.. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 74:(1999), pp. 1024-1026. [S0003-6951(99)03404-X]
Direct correlation between the electrical properties and the microstructure of a Y1Ba2Cu3O7-x grain boundary Josephson junction
TAFURI F.
;F. MILETTO GRANOZIO;
1999
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