Measurement of the branching fraction and CP asymmetry for B → D¯0 π decays

Bloomfield, T.; Sevior, M. E.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, M. -C.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Dubey, S.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hernandez Villanueva, M.; Hou, W. -S.; Hsu, C. -L.; Iijima, T.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jang, E. -J.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C. W.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. -K.; Kimmel, T. D.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kwon, Y. -J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; C. H., Li; Li, J.; Y. B., Li; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; Macqueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Moon, H. K.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S. -H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J. -G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uno, K.; Uno, S.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Werbycka, O.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.

doi:10.1103/PhysRevD.105.072007

We measure the branching fractions and CP asymmetries for the decays B0→D¯0π0 and B+→D¯0π+, using a data sample of 772×106 BB¯ pairs collected at the (4S) resonance with the Belle detector at the KEKB e+e- collider. The branching fractions obtained and direct CP asymmetries are B(B0→D¯0π0)=[2.70±0.06(stat)±0.10(syst)]×10-4, B(B+→D¯0π+)=[4.53±0.02(stat)±0.15(syst)]×10-3, ACP(B0→D¯0π0)=[+0.42±2.05(stat)±1.22(syst)]%, and ACP(B+→D¯0π+)=[+0.19±0.36(stat)±0.57(syst)]%. The measurements of B are the most precise to date and are in good agreement with previous results, as is the measurement of ACP(B+→D¯0π+). The measurement of ACP for B0→D¯0π0 is the first for this mode, and the value is consistent with Standard Model expectations.

Measurement of the branching fraction and CP asymmetry for B → D¯0 π decays / Bloomfield, T.; Sevior, M. E.; Adachi, I.; Aihara, H.; Al Said, S.; Asner, D. M.; Aulchenko, V.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Bahinipati, S.; Behera, P.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bilka, T.; Biswal, J.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bracko, M.; Browder, T. E.; Campajola, M.; Cao, L.; Cervenkov, D.; Chang, M. -C.; Chekelian, V.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, H. E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Nardo, G.; Dhamija, R.; Di Capua, F.; Dolezal, Z.; Dong, T. V.; Dubey, S.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fulsom, B. G.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Giri, A.; Goldenzweig, P.; Hadjivasiliou, C.; Halder, S.; Hartbrich, O.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Hernandez Villanueva, M.; Hou, W. -S.; Hsu, C. -L.; Iijima, T.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Jacobs, W. W.; Jang, E. -J.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, C. W.; Joo, K. K.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kim, C. H.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. -K.; Kimmel, T. D.; Kodys, P.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Krizan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kwon, Y. -J.; Lalwani, K.; Lange, J. S.; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, J.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; Macqueen, C.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Moon, H. K.; Mussa, R.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, S. -H.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Popov, V.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Senyo, K.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shiu, J. -G.; Shwartz, B.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Staric, M.; Stottler, Z. S.; Strube, J. F.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Sutcliffe, W.; Takizawa, M.; Tanida, K.; Tao, Y.; Tenchini, F.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Uno, K.; Uno, S.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vossen, A.; Waheed, E.; Wang, C. H.; Wang, E.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Werbycka, O.; Wiechczynski, J.; Won, E.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yang, S. B.; Ye, H.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.. - In: PHYSICAL REVIEW D. - ISSN 2470-0010. - 105:7(2022). [10.1103/PhysRevD.105.072007]