The role of metrology in the cyber-security of embedded devices / Arpaia, P; Cioffi, A; Esposito, A; Caputo, F. - In: ACTA IMEKO. - ISSN 2221-870X. - 12:2(2023). [10.21014/actaimeko.v12i2.1455]
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
1455-Article Text-10691-1-10-20230503.pdf
non disponibili
Licenza:
Non specificato
Dimensione
687.58 kB
Formato
Adobe PDF
|
687.58 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.