High-resolution Analytical STEM of Defects and Interfaces in Beam-sensitive Ultra-thin Cuprate Films / Srot, Vesna; Wang, Yi; Minola, Matteo; Salzberger, Ute; Salluzzo, Marco; Luca, Gabriella Maria De; Keimer, Bernhard; van Aken, Peter. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1431-9276. - 26:S2(2020), pp. 2972-2973. [10.1017/s1431927620023387]
High-resolution Analytical STEM of Defects and Interfaces in Beam-sensitive Ultra-thin Cuprate Films
Salluzzo, Marco;Luca, Gabriella Maria De;
2020
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