A study of UIS ruggedness of mismatched paralleled SiC MOSFETs / Scognamillo, Ciro; Catalano, Antonio Pio; Codecasa, Lorenzo; Castellazzi, Alberto; D’Alessandro, Vincenzo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 164:(2025). [10.1016/j.microrel.2024.115571]
A study of UIS ruggedness of mismatched paralleled SiC MOSFETs
Ciro Scognamillo;Antonio Pio Catalano;Lorenzo Codecasa;Alberto Castellazzi;Vincenzo d’Alessandro
2025
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