Experimental characterization of temperature distribution on Power MOS devices during Unclamped Inductive Switching / Irace, Andrea; Breglio, Giovanni; Spirito, Paolo; E., D'Arcangelo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 44 (9-11 SPEC. ISS.):(2004), pp. 1455-1459.
Experimental characterization of temperature distribution on Power MOS devices during Unclamped Inductive Switching
IRACE, ANDREA;BREGLIO, GIOVANNI;SPIRITO, PAOLO;
2004
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