Partition-based approach to parametric dynamic compact thermal modeling / Codecasa, Lorenzo; D'Alessandro, Vincenzo; Magnani, Alessandro; Rinaldi, Niccolo'; Metzger, Andre G.; Bornoff, Robin; Parry, John. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 79:(2017), pp. 361-370. [10.1016/j.microrel.2017.06.059]
Partition-based approach to parametric dynamic compact thermal modeling
Vincenzo d'Alessandro;Alessandro Magnani;Niccolo' Rinaldi;
2017
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