The XENONnT dark matter experiment

Null, Null; Aprile, E.; Aalbers, J.; Abe, K.; Ahmed Maouloud, S.; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Antochi, V. C.; Antón Martin, D.; Arneodo, F.; Balata, M.; Baudis, L.; Baxter, A. L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Brookes, E. J.; Brown, A.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bui, T. K.; Cai, C.; Cardoso, J. M. R.; Cassese, F.; Chiarini, A.; Cichon, D.; Cimental Chavez, A. P.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Corrieri, R.; Cuenca-García, J. J.; Cussonneau, J. P.; Dadoun, O.; D'Andrea, V.; Decowski, M. P.; De Fazio, B.; Gangi, P. Di; Diglio, S.; Disdier, J. M.; Douillet, D.; Eitel, K.; Elykov, A.; Farrell, S.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flierman, M.; Form, S.; Front, D.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Gardner, R.; Garroum, N.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guerzoni, M.; Guida, M.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Howlett, J.; Huhmann, C.; Iacovacci, M.; Iaquaniello, G.; Iven, L.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Joy, A.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Kuger, F.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Liu, K.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Marrodán Undagoitia, T.; Martella, P.; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Mele, E.; Messina, M.; Michinelli, R.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Nisi, S.; Oberlack, U.; Orlandi, D.; Othegraven, R.; Paetsch, B.; Palacio, J.; Parlati, S.; Paschos, P.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Rynge, M.; Shi, J.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schulte, P.; Schulze Eißing, H.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Stephen, J.; Stern, M.; Stillwell, B. K.; Takeda, A.; Tan, P. -L.; Tatananni, D.; Terliuk, A.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Westermann, J.; Wittweg, C.; Wolf, T.; V. H. S., Wu; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhong, M.; Zhu, T.

doi:10.1140/epjc/s10052-024-12982-5

: The multi-staged XENON program at INFN Laboratori Nazionali del Gran Sasso aims to detect dark matter with two-phase liquid xenon time projection chambers of increasing size and sensitivity. The XENONnT experiment is the latest detector in the program, planned to be an upgrade of its predecessor XENON1T. It features an active target of 5.9 tonnes of cryogenic liquid xenon (8.5 tonnes total mass in cryostat). The experiment is expected to extend the sensitivity to WIMP dark matter by more than an order of magnitude compared to XENON1T, thanks to the larger active mass and the significantly reduced background, improved by novel systems such as a radon removal plant and a neutron veto. This article describes the XENONnT experiment and its sub-systems in detail and reports on the detector performance during the first science run.

The XENONnT dark matter experiment / Null, Null; Aprile, E.; Aalbers, J.; Abe, K.; Ahmed Maouloud, S.; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Antochi, V. C.; Antón Martin, D.; Arneodo, F.; Balata, M.; Baudis, L.; Baxter, A. L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Brookes, E. J.; Brown, A.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bui, T. K.; Cai, C.; Cardoso, J. M. R.; Cassese, F.; Chiarini, A.; Cichon, D.; Cimental Chavez, A. P.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Corrieri, R.; Cuenca-García, J. J.; Cussonneau, J. P.; Dadoun, O.; D'Andrea, V.; Decowski, M. P.; De Fazio, B.; Gangi, P. Di; Diglio, S.; Disdier, J. M.; Douillet, D.; Eitel, K.; Elykov, A.; Farrell, S.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flierman, M.; Form, S.; Front, D.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Gardner, R.; Garroum, N.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guerzoni, M.; Guida, M.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Howlett, J.; Huhmann, C.; Iacovacci, M.; Iaquaniello, G.; Iven, L.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Joy, A.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Kuger, F.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Liu, K.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Marrodán Undagoitia, T.; Martella, P.; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Mele, E.; Messina, M.; Michinelli, R.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Nisi, S.; Oberlack, U.; Orlandi, D.; Othegraven, R.; Paetsch, B.; Palacio, J.; Parlati, S.; Paschos, P.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Rynge, M.; Shi, J.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schulte, P.; Schulze Eißing, H.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Stephen, J.; Stern, M.; Stillwell, B. K.; Takeda, A.; Tan, P. -L.; Tatananni, D.; Terliuk, A.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Westermann, J.; Wittweg, C.; Wolf, T.; Wu, V. H. S.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhong, M.; Zhu, T.. - In: EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6052. - 84:8(2024). [10.1140/epjc/s10052-024-12982-5]