A geometry-scalable electrothermal compact circuit model of SiC Merged-PiN-Schottky diodes accounting for the snapback mechanism: Application to current surge events / Borghese, Alessandro; Terracciano, Vincenzo; Boccarossa, Marco; Irace, Andrea; D’Alessandro, Vincenzo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 168:(2025). [10.1016/j.microrel.2025.115668]

A geometry-scalable electrothermal compact circuit model of SiC Merged-PiN-Schottky diodes accounting for the snapback mechanism: Application to current surge events

Alessandro Borghese
;
Vincenzo Terracciano;Marco Boccarossa;Andrea Irace;Vincenzo d’Alessandro
2025

2025
A geometry-scalable electrothermal compact circuit model of SiC Merged-PiN-Schottky diodes accounting for the snapback mechanism: Application to current surge events / Borghese, Alessandro; Terracciano, Vincenzo; Boccarossa, Marco; Irace, Andrea; D’Alessandro, Vincenzo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 168:(2025). [10.1016/j.microrel.2025.115668]
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